液晶空間光調制器常用的校準測量方式

教學液晶三維空間光幅度調制器通用的較準精確測量模式

各不相同的LCOS所要熬制的時間范圍各不相同，所以在實用先前，需要對每隔LCOS都確定熬制性的校準。常見測試措施有電功率計探測系統法、馬赫—曾德打攪措施、徑向剪接打攪措施、泰曼格林打攪措施、雙孔打攪措施等。下文簡簡單單講解兩種。

輸出計直觀測探法

圖1

熱效率計隨便偵測法的的原理圖如同1已知，脈沖光經準直擴束后強光照在非偏振分束片上，但其中電子散射光經LCOS解調后漫光漫反射面，漫光被漫反射面的光經漫光漫反射面鏡漫光漫反射面后對于參照光，與待測的 LCOS解調后的光情況干擾后被熱效率計發送到，記錄查詢光強的不同。測試手段至關簡潔明了，雖然根據強光照光都是嚴格的的成平行線光，干擾后的光強較難擔保wan全豎直，導至預估結杲高精準度不太高，還有實現了的相位解調特征結杲為某個LCOS液晶板拼接屏層外單單從表面的峰值結杲，始終無法使用該手段實現了液晶板拼接屏層某外單單從表面的解調結杲。

馬赫-曾德干涉現象措施 

圖2

馬赫-曾德干預儀步驟步驟的工作原里圖如2圖示。離子束路過第1個BS后將光拆分四公里，一直光由全菲涅爾透鏡全反射強度到然后個BS，另外直光穿透夜晶房間光熬制器時有發生熬制后，與分類光干預儀。能夠的干預儀細條紋的相對來說而言挪動量既為夜晶房間光熬制器的相位熬制量。馬赫-曾德干預儀儀確認計算的干預儀圖的相對來說而言挪動來能夠夜晶房間光熬制器的相位熬制問題。馬赫-曾德干預儀為干預儀的工作原里做好檢測的，但是由于配置應該的分類光為從緊的立體波，對實驗室配置的增強性規定要求較高，還有就是該步驟步驟適宜于檢測的電子散射式夜晶房間光熬制器。

徑向抗拉干擾工藝

徑向剪截約束方式 作業操作過程圖如圖甲提示3提示，該方式 能夠 對夜晶環境光解調器解調后的波面與這種錯亂后擴大和縮短的波面生產約束紋路，能夠 最速下降法java算法探討的約束紋路，以的夜晶環境光解調器的相位解調功能。

圖3

在剪截涉及儀現象激光鐳雕機的光路中，將縮放的波面當做考慮光，避開了獲取附加考慮光必帶來的差值，控制了操作系統的穩相關性高性，具備較高的計算精度。在記載涉及儀現象斑紋的的時候中， 造成一部分波面參與記載，只需要一張涉及儀現象圖即刻。但瑕疵是若縮放的波面變異有點大時，將無非被看作水平線波，涉及儀現象斑紋將比較僵化，有影響于后期的的實驗操作結論補救。

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a）原創的1920 x 1200分辯率SLM波前（λ/ 7 RMS）（b）廣泛應用了像差校核的波前（λ/ 20 RMS）（c）未使用校準的像差球面模型圖。（d）使用校準后的像差球面模型圖。

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