15601689581
當前位置：主頁 > 產品展示 > 激光測量設備 >
對應新聞稿件 Related articles
  • 紫外和藍光污染測量儀X1-3
    紫外和藍光污染測量儀X1-3
    紫外和藍光污染測量儀X1-3不關心晝夜節律的可能中斷。只有通過眼角膜并在視網膜上成像的輻射才與藍光危害評估相關。設備有適當的標準和必要的測量技術對光危害的評定可能顯得尤為重要。
    型號：    廠商性質：加盟廠商
    查看詳情
  • 高幀頻時間分辨相機（1.6ns）
    高幀頻時間分辨相機（1.6ns）
    高幀頻時間分辨相機（1.6ns）是一款高速光學相機，具有納秒光子響應。高幀頻時間分辨相機基于一款新型的硅像素傳感器，采用專用集成電路和讀出器相結合。高幀頻時間分辨相機適合電子、離子或單光子時間分辨成像的廣泛應用。
    型號：    廠商性質：批發商商
    查看詳情
  • 模擬PIID激光伺服控制器 T-PIID-NN01
    模擬PIID激光伺服控制器 T-PIID-NN01
    模擬PIID激光伺服控制器 T-PIID-NN01廣泛用于低噪伺服控制激光器和其他精密實驗系統。模擬PIID激光伺服控制器內部實現兩級積分緊密鎖定，使用戶能夠自由配置伺服循環參數，實現對被控對象如聲學和光電驅動器、聲音變壓器、壓電驅動器等的快速鎖定。
    型號：    廠商性質：代銷商商
    查看詳情
  • 光纖準直器/耦合器
    光纖準直器/耦合器
    光纖準直器/耦合器用于FC/PC貼片光纖的對準。將準直器（現貨供應，NA高達0.275）與BeamTuning或其他光束整形元件相結合，可獲得任何所需的輸出光束，同時保持衍射限制的波面。
    型號：    廠商性質：選擇商
    查看詳情
  • 雙向散射分布函數測量儀
    雙向散射分布函數測量儀
    雙向散射分布函數測量儀：實時測量雙向反射率(BRDF)或透光率(BTDF)分布函數、半球總反射率或透光率、功率譜密度(PSD)、表面粗糙度和角分辨散射。
    型號：    廠商性質：代里商
    查看詳情
  • 直接激光干涉圖形加工器
    直接激光干涉圖形加工器
    直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。
    型號：    廠商性質：地區加盟商
    查看詳情
  • 激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
    激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
    激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測是所有的光學模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。
    型號：    廠商性質：代理加盟商
    查看詳情
  • Matesy-STT系列軸扭紋光學測量儀
    Matesy-STT系列軸扭紋光學測量儀
    軸扭紋光學測量儀是用于生產制造現場快速判定軸類零件有無扭紋測量儀器。通過相干照度在周期性微結構上生成圓錐形衍射圖樣，對衍射線圖樣進行目測或數顯評估。
    型號：Matesy-STT產品系列    廠商性質：代理費商
    查看詳情
  • 激光護目鏡
    激光護目鏡
    選擇激光護目鏡需要注意以下幾點：1. 需要進行防護的激光器波長范圍，2. OD值，光密度Optical Density：OD值越大，對相應波長范圍防護能力越強，3. VLT（可見光透過率）：VLT數值低于20%，需要在一定照明的環境中進行使用。4. Frame（指的是鏡框類型）：面部輪廓等信息。
    型號：    廠商性質：微商經銷商
    查看詳情
  • Oosight成像系統——紡錘體觀察儀
    Oosight成像系統——紡錘體觀察儀
    Oosight成像系統——紡錘體觀察儀：Oosight成像系統采用核心的LC-PolScope™技術，能夠提供一種特別的能力，可以在不使用外源性染料或標簽的情況下，提供紡軸裝置和三層透明帶的高對比度定量圖像。
    型號：    廠商性質：POS機總代理
    查看詳情
  • 在線方塊電阻測試儀
    在線方塊電阻測試儀
    EddyCus TF inline在線方塊電阻測試儀可以測量薄層的性能，如金屬層厚度，薄層電阻，輻射系數，殘余水分或在各種基材上的非接觸克重。相關基材有玻璃、箔、紙、晶圓片、塑料或陶瓷。通過常駐測量或觸發事件進行監測，以在快速移動的涂層過程中獲得等距離的結果。檢測解決方案可以在大氣或真空條件下實施。基于電渦流技術的檢測過程高采樣率更高。可以使用客戶的軟件為過程控制系統提供測量結果。
    型號：    廠商性質：代理費商
    查看詳情
  • 非接觸式薄層電阻測試儀
    非接觸式薄層電阻測試儀
    非接觸式薄層電阻測試儀：昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接觸式方塊電阻測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜和金屬方塊電阻精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數據保存和導出。
    型號：    廠商性質：批發商商
    查看詳情
共 122 條記錄，當前 3 / 11 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
昊量微信支付百度在線博主
昊量我的微信再線客戶服務熱線

版權局整個 © 2024杭州昊量光學生產設備較少總部 技術支持： Sitemap.xml

249--------m.uysm.cn

404--------m.seo-edu.com.cn

925--------m.shweihong.cn

879--------m.bhr.org.cn

908--------m.bahhabp.cn

686--------m.yel.net.cn

949--------m.zgdfqb.com.cn

582--------m.qiluwang.org.cn

419--------m.sdmfjc.cn

531--------m.szdfq.cn