企業產品材質：Xper WLI
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,生物產業,電子,航天,綜合 |
白光干涉儀
Xper WLI 不是款適用于對不同精細電子電子元件及物料外面做亞微米級測定的檢查概述機器設備。它是以白光燈打攪新技術為作用、做好精細Z向復印包塊、3D 繪圖算法為基礎等對電子電子元件外面做非接處式復印并開發外面3D圖象，做好設計游戲對電子電子元件外面3D圖象做數據資料操作與概述，并了解造成電子電子元件外面線質量的2D、3D參數表，導致做到電子電子元件外面形貌3D測定的光學材料檢查概述機器設備。優勢：
價格優勢：市場上性價比的白光干涉儀。
簡單易行易用：只需將合格品安置于合格品桌上，就可以了一直參與自動測量；能夠測試非觸碰式非出平整產品的樣品：主要是因為光電線條測試法不是種非觸碰式技術性，能夠不累測試微彎和任何非平面設計的外表面。還不累地測試球面的的外表面光亮度，線條和粗糙，度。除此后，看作有一種非觸碰式的方法光電線條儀不是像電極式線條儀那般搞壞光滑的透明膜。不需根換實驗室耗材：只需要一位LED燈源，不需另外附件根換；多維解析3D用途：Xper WLI外部輪廓儀還具有力量強大的處里軟件，軟件除有表皮越來越粗糙度，形狀圖片大全和斜坡高速的在線測量外，還就能夠同時立場轉動備樣量測三維彩色圖像幾何體，多立場解析備樣彩色圖像。應用領域：
納米技術尺寸的尺寸和形狀判斷WLI和PSI格局裝換行業運用：樣品管理和線條查測原裝修材料形式：半導體設備晶圓，微米器材，生物工程裝修材料，MEMS:微智能機械設備制造設備，lED出現發亮電感
規格
遠離：白燈干擾遠離適用范圍：表皮能三維圖剖面衡量，表皮能干硬度衡量Z軸辨別率：1.75nm CCD 識別率：2464*2056掃描拍攝依據：30 μm物鏡：10X, 20X, 50X, 100X照明設備：LEDPSI機制濾光片配置文件：532，633nm（看不見光面積：400-750nm） 軟件功能表：自己試驗經濟條件安裝最后加工：線性加工/ z軸有效把握細胞裝置/偏差有效把握，X / Y軸輪廓線分離出成像案例：
半導體器件
牙齒表面分析
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
