半導體/薄膜無損檢測儀

半導體/薄膜無損檢測儀產品特點

系統的軟件用有的光聲的技術設汁高質量檢測系統的軟件。源自 CNRS 和波爾多大學的技術轉讓，它依靠激光、材料和聲波之間的相互作用實驗超精密材料物性，薄膜厚度檢測

系統的用無接處，高質量光學儀器在測量。用到二氧化碳激光生產100GHz綜上所述高水準頻段多普勒彩超波，與此在線檢測收獲文件諸如此類板材厚度，支承力，對話框散熱量，熱導率等。

半導體/薄膜無損檢測儀產品尤其適測量從幾納米到幾微米的薄層，無論是不透明的（金屬、金屬氧化物和陶瓷），還是半透明和透明的。 這種全光學無損檢測技術（without contact, no damage, no water, no Xray）不受樣品形狀的影響。

服務用于控制精度行達 1nm to 30 microns , Z軸區分比率為亞微米，于此同時，系統提供附著力、熱性能（納米結構界面熱阻）測量分析

多種材料適用性

非常廣泛的物料至關首要。我門的新技術已證實其可自動測量大多復合物料或是衛浴陶瓷和復合硫化物，還有就是沒受內部結構關鍵因素的反應。                        

范圍廣的選用中發揮出來用處

半導體的行業的行業

半導體生產設備行業內為我國身邊的碰到的大多數智能電子生產設備帶來了了大多元件。它的制作還要在硅晶片上進心行頻繁聚酰亞胺膜沉淀積累，。

就大于現象，自己造成供應：

-繞城高速操縱探測

-無損格式無打交道自動測量

-編織成單層/兩層測試

展現行業中

現如今，多種的新技術的競爭市場導向顯視器的生產的，而顯視器在各位的日常生活選用中沒處并不在。法律但事實上，可能前景 UHD-8K 標淮包括大新主動體現器的加工工藝流程，這連續不斷增大的業內留存能力控制

單獨的圖片分辨率即使不是堆薄層生產油墨、銀、ITO……在這領域，操縱薄層壁厚的困難一樣存在著。這困難有機會會影響物品顯現水平問題。

可比性當我們可打造：

- 就此類分級樣機的*定期檢查。
- 添加薄厚的會性。
- 非損傷性和非使用式重量側量。

薄層的堆積

不管怎樣是在航空公司工業生產制造是社區醫療運動器械生產制造各個領域，技木涂覆都會采用減弱高額外添加值部分中的某種技能。那些涂覆的板材厚度馬上又已成為事關任務能的關鍵性緣由。

碰觸式破裂測定相對此區域會給我們單一現象，且出現異常于待測備樣外觀重要因素、曲率等理由，很困難的控制備樣性能指標

對于我可以能提供：

不發生變化原輔料形貌無損音樂監測（Form factor postage）

很快板厚為量測

再線估測調節