品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 電子 | 多波長動態干涉儀 | 納米級相位分辨率 |
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀
【KALEO MultiWAVE 概況】
Phasics在光學計量領域持續創新,推出能夠兼顧測量電子散射波前誤差值和射線波前隨機誤差(TWE / RWE)的革命性新產品:Kaleo MultiWAVE動態干涉儀。 直徑高至5.1英寸(130毫米)的鍍膜和未鍍膜的光學器件可在其工作波長下直接進行測量。 Kaleo MultiWAVE是購買多臺干涉儀或特殊波長干涉儀的有效替代方案,擁有*性價比。 該系統同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度,及動態干涉儀的抗震性能。
【并于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業經驗與*的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。
一、 Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀主耍亮點
- 紅外光譜、不難發現光、近紅外、短波紅外、中遠紅外等任意尺寸多光波長來樣加工
- 單臺涉及儀可集成型各個本職工作激發光譜
- 奈米級相位分辯率
- 混凝土泵送動態性條件 (>500 細條紋數)
二、KALEO MultiWAVE 應用
- 電子光電器件元器件封裝及電子光電器件平臺計量檢定
三、KALEO MultiWAVE 量測情況
四、KALEO MultiWAVE 技術指標性能(1)
RMS重復性 (2) | < 0.7 nm (< λ / 900) |
測量精度 | 80 nm PV (3) |
動態范圍(離焦值) | 500 fringes (SFE = 150 μm) |
可測反射率范圍 | 4% - 100% |
(1) 四英寸口徑,使用625 nm光源