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高精度變溫霍爾效應測試儀(70-730K)

概訴描訴:高精度變溫霍爾效應測試儀(70-730K)利用范德堡測量技術對半導體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數、電子遷移率等進行測量,用來表征和了解材料的物理性質。

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  • 生產廠家基本特征:代理商
  • 自動更新時段:2021-06-02
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高精度變溫霍爾效應測試儀(70-730K)

變溫霍爾效果測定儀是根據范德堡測定枝術對半導材質的內阻率、載流子含量、磁致內阻率、霍爾數值、光電科技挪動率等采取自動檢測,時用定量分析和詢問裝修材料的熱學特點。昊量光電科技的網絡帶寬變溫霍爾定律自動檢測儀主要的可以及霍爾定律自動檢測、變溫恒溫器、再加人體磁場三部曲分。

高精度變溫霍爾效應測試儀(70-730K)

變溫霍爾不確定性預估儀利用不同范德堡方法可以在不同溫度下對材料的阻值率、載流子溶液濃度、磁致阻值率、霍爾常數、電子器件遷出率做好檢測的。該設配用于焦耳-湯姆遜公司也可以為樣品英文提高70-730K寬泛的變溫超范圍,根據攝氏度驅動器使彰顯的攝氏度不穩定量分析性和重疊性,控溫可靠性強,精密度高達到±0.1K,辨認率多達到0.01K,并對溫濕度轉變 有超快的積極地響應快速。主要采用zui大能作為1.4T的渦流鐵施用外電場,并可按照必須要 加配不同于的渦流鐵。添置霍爾衡量把控器,印刷品直流電壓空間為10-12-0.01 A,樣品管理額定電壓大約到10-6-2.4V。所采用具備靈活性高的模塊電源化的設計,能能只能根據所需實驗報告和金費所需設立不錯的系統性。

  

變溫霍爾效果測量體系、霍爾效果測量儀,寬溫霍爾效果測量儀,光纖寬帶變溫霍爾效果測量,高誤差霍爾效果測量儀

 

昊量光電公司還推出的變溫霍爾估測系統選取*的焦耳-湯姆遜公司對樣本實現高恒溫加工,不能自己液態物質冷卻劑加工。立即空腔最少控制在8 mTorr時,能夠供應下攝氏度超范圍,空調溫度,70K-580K,80K-580K,70K-730K,80K-730K,常溫-730K,十二種不一樣的的高溫之間。合理配置AUK2000水溫操控器,可可以提供明確的水溫操控與衡量還有就是占有*的固定性處理和從復性。該操作系統控溫精密度較達到到±0.1K,辯認率可達到到±0.01K,對工作溫度的加載失敗速度快led光通量到1K/s

 

 

霍爾反應側量儀采取范德堡最簡單的措施對霍爾反應和阻值率采取側量,二個檢測器無線連接原輔料,這當中幾個進入端電壓電流,其中幾個側量端電壓。只為方便快捷更快的設置原輔料,與原輔料界面打交道有氣彈簧檢測器和利用聚酰亞胺點焊兩種方式最簡單的措施。氣彈簧探頭都可以使待測樣機與探頭馬上接觸性,無須粘帖或電弧焊接,這有效的的禁止了樣機在高的溫度下檢測時焊點溶解的方面。另外在換樣機時更加快簡單。聚酰亞胺手工焊接法。當供試品寸尺比較小,又或者有特色幾何體的標準的供試品時用該的方式,另外采取螺旋彈簧檢測器不可能到可信賴的歐姆接時也用在這種法律依據。霍爾感應器器在真空箱腔中所在供試品的評論,行對供試品身處磁場強度的長寬比做正確的在測量。

 

 

帶寬變溫霍爾效用量測儀采用了電磁能波能體或開關磁阻電機鐵帶來另外磁體。并有兩類的不同的電磁能波能體可供考慮。電磁能波能體可使用系統軟件和霍爾調整器完成調整。AU-M-25有的是個緊密的低資金的爪極體,該電磁感應體既不要油冷就說要風冷。該磁體不錯作為5000高斯的單通道在加上磁體,霍爾溫控器在2片磁感應鐵左右,假若都要反方向磁體能能把溫控器反方向加入可以了。②AU-MK-50是雙極渦流爐波體,可展示 變動的另外渦流爐波,zui高能達5000高斯,并可展示 正向渦流爐波和0渦流爐波。不僅兩渦流爐波鐵范圍內的間隔能否控制。該渦流爐波鐵適用風冷,但冒風冷散熱串口如果你長精力在選擇可適用風冷散熱。③AU-M-150渦流爐波鐵可展示 變動的另外渦流爐波,zui高可多達14000高斯,可優質轉變渦流爐波正向,而言高渦流爐波和長精力的在選擇,應通過風冷散熱使渦流爐波體降低溫度的。

 

 

網絡帶寬變溫霍爾負效應預估儀主要采用幾點范德堡的技巧預估,并能夠 霍爾預估控住器AUH5000來保證,AUH5000控住器是個一身化的主設備,既可以提供數據工作電流/額定電壓源、電流大小/相電壓測探、人體磁場的測試和掌控。該掌控器還可以依據USBRS-232與新電腦連接方式經過小電腦軟件開始上述所說操控。經過小電腦軟件能達到溫調節、霍爾檢測等。

 

 

 

u  其主要的特點

  • 寬的運營溫暖(70-730K
  • 的平均溫度不穩定分析性和多次性(±0.1K
  • 高外部磁場強度(1.4T
  • 輕松標準配置的摸塊開發,能能不同專項經費和研究要求建立軟件系統
  • 低運作價格
  • 有機物械、吸聲材料和電子無線噪音污染
 

u  包括操作

半導體器件元器件食材(如說Si, Ge, GaAs, AlGaAs, CdTe, and HgCdTe)、電磁振動器食材(磁電阻值元器件、GMR復合膜、稀磁半導體器件元器件、超導體食材)的功率電阻率、載流子滲透壓、磁致功率電阻率、霍爾常數、電子變更率衡量

 

u  通常規格

SPECIFICATIONS FOR THE VARIABLE TEMPERATURE HALL SYSTEM

Operating Temperature Range:Available between 70K and 730K (Joule-Thomson Thermal Stage)
Dimensions of Vacuum Chamber:2.5 in wide x 6.0 in long x 0.75 in high (at sample end)
Weight of the Vacuum Chamber:16 oz (454 grams) with thermal stage mounted
Sample Mounting Surface Size:10 mm x 12 mm
Standard Window Material:Fused silica
Maximum Sample Weight Allowed:No more than 5 grams
Working Distance:12 mm
Dimension Configurations:-Spring Loaded Probe spacing: 0.1 in, 0.2 in, 0.3 in (2.25 mm, 5 mm, 10.5 mm)-Kapton Harness space: not applicable
Electrical Connections:Triax connectors.
Current Source Range:

-12 to 0.01 Amps

Voltage Measurement Range:

-6 to 2.4 Volts

Resistance (or Resistivity) Range: **Typical range is 10 -4 Ohm*cm to 10 13  Ohm*cm (dependent on sample thickness)
Carrier Concentration Range: **

Approximate range is 10 3 cm -3 to 10 19 cm -3(dependent on sample thickness )

Mobility Range: **

Approximate range is 1 cm2 /volt*sec to 107 cm2/volt*sec

Sample Thickness:0.001-2000 micrometer
Temperature Accuracy:< 0.5K at 80K;  + /- 0.5K between 80K and 400K; < 1.5K from 400K to 730K
Temperature Stability:* /- 0.1K
Temperature Resolution:0.01 K
   
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