<微小区域薄膜厚度测量仪MPROBE 40 MSP-上海昊量光电设备有限公司
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微小區域薄膜厚度測量儀

概括詳情:微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP,MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡,用于小點薄膜厚度測量。

  • 廠品型號:MPROBE 40 MSP
  • 生產廠家特點:代理商
  • 版本更新日子:2022-04-13
  • 訪  問  量:1191
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全面簡介
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域生物產業,電子,綜合
微小區域薄膜厚度測量儀MPROBE 40 MSP

微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡,用于小點薄膜厚度測量,用于數千種應用程序,并提供完整的標準模型系列來支持它們。微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度,包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長范圍和分辨率來區分,這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。



采用:

1. 側量圓柱形或曲上面塑料薄膜料厚:肌內注射器、金屬支架、銷釘、家裝電線等。及時在程度微彎的表上面,點也會產生非常平整的場以體現精度側量。

2. 不均衡、有粗糙的納米技術涂層或光散射素材,如高霧度或納米技術激光束進入pe膜。小黑斑精準定位校正可以有效地少光散射和不均衡性的引響

3.紋路晶圓、MEMS 和另一個都要高精確度度行業的住宅區域在線測量的操作。


主要金橋銅業跨接線的截面積大小:

準確度

0.01nm或0.01%

確切度

0.2%或1nm

穩固性

0.02nm或0.03%

聚視點尺寸圖

0.2mm或0.4mm

打樣定制尺寸圖

>20mm

料厚使用范圍

0.05-70um

光波長區域

400-1000nm


型號選擇表單:

MProbe 40

激發光譜范圍圖

規格范圍內

VIS

400nm -1100nm

10nm – 75 μm

UVVISSR

200nm -1100nm

1nm -75μm

VISHR

700nm-1100nm

1μm-400μm

NIR

900nm-1700nm

50nm – 85μm

UVVisF

200nm -1700nm

1nm – 85μm

UVVISNIR

200nm-800nm

1nm -5μm

NIRHR

1500nm -1550nm

10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可隨著要結構設計私人訂制感應器



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