品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子,綜合 |
微小區域薄膜厚度測量儀 | MPROBE 40 MSP |
微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP
MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡,用于小點薄膜厚度測量,用于數千種應用程序,并提供完整的標準模型系列來支持它們。微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度,包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長范圍和分辨率來區分,這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。
采用:
1. 側量圓柱形或曲上面塑料薄膜料厚:肌內注射器、金屬支架、銷釘、家裝電線等。及時在程度微彎的表上面,點也會產生非常平整的場以體現精度側量。
2. 不均衡、有粗糙的納米技術涂層或光散射素材,如高霧度或納米技術激光束進入pe膜。小黑斑精準定位校正可以有效地少光散射和不均衡性的引響
3.紋路晶圓、MEMS 和另一個都要高精確度度行業的住宅區域在線測量的操作。
主要金橋銅業跨接線的截面積大小:
準確度 | 0.01nm或0.01% |
確切度 | 0.2%或1nm |
穩固性 | 0.02nm或0.03% |
聚視點尺寸圖 | 0.2mm或0.4mm |
打樣定制尺寸圖 | >20mm |
料厚使用范圍 | 0.05-70um |
光波長區域 | 400-1000nm |
型號選擇表單:
MProbe 40 | 激發光譜范圍圖 | 規格范圍內 |
VIS | 400nm -1100nm | 10nm – 75 μm |
UVVISSR | 200nm -1100nm | 1nm -75μm |
VISHR | 700nm-1100nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm – 85μm |
UVVisF | 200nm -1700nm | 1nm – 85μm |
UVVISNIR | 200nm-800nm | 1nm -5μm |
NIRHR | 1500nm -1550nm | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
*可隨著要結構設計私人訂制感應器
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