原位薄膜厚度测量仪MPROBE 50 INSITU-上海昊量光电设备有限公司

原位薄膜厚度測量儀

概括簡述：原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集。

服務應用：MPROBE 50 INSITU

生產供應廠商屬性：代理商

內容更新耗時：2022-04-13

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品牌	其他品牌	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	生物產業,電子,綜合
原位薄膜厚度測量儀	MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度測量儀

<strong>原位薄膜厚度測量儀</strong>-MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度測量儀用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集，使用高強度閃光氙燈在寬帶 ( UV-NIR) 波長范圍內進行精確測量。MProbe 50 系統是*可定制的，以支持不同的真空箱室幾何形狀。根據可用的光學端口，可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在樣品表面或準直。反射探頭可以放置在沉積室光學端口的外部或內部（使用光纖饋通）。MProbe 50 系統沒有活動部件。典型測量時間~10ms。可以快速可靠地測量任何半透明薄膜。

優勢與劣勢：

1.原位溥膜壁厚和 n&k 在測量

2.主要用于高情況光情況下校正的門控統計資料數據監控

3.原材料：500+ 初始化的材料數據源庫

4.多次、快速的和正規的在線測量

5.機靈的配制——*制作以識別基性巖室的怎么樣圖型

電磁閥選型表單：

MProbe50	光波波長區域	高度的范圍
VIS	400nm -1100nm	15nm – 20 μm
HRVIS	700nm-1000nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	100nm – 200μm
UVVisF	200nm -900nm	1nm – 20μm
UVVISNIR	200nm-1700nm	1nm -200μm
XT	1590nm -1650nm	10μm-1mm

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