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圓二色譜儀-mtk量對映體量過大預估(ee)儀(EKKO CD)
圓二色譜儀-高通芯片量對映體超量預估(ee)儀(EKKO CD)產品特別
- 更快高通驍龍量采取不對的稱合成視頻和崔化的選擇
- 單可見光波長檢測的全孔位板(96個)僅需看不到2min
- 全光譜分析測試在不超過 2 小內可實現
- 檢查效果比 傳統液質色譜(HPLC) 和超臨界狀態氣體色譜 (SFC)的方式更迅速且費用更低,且每鐘頭可識別千余個對映體吃太多值。
- 工作比傳統化的擁有系統自動監測掃描件的 CD 更簡約,不需要將孔板的每臺孔中的網站內容物更改到比色皿中,也不需要在量測進度中擦洗比色皿
- 功能性更人性的本質化,也可以會直接從孔板讀取數據對映體過度值(周期性轉變到比色皿)
- 默認PC軟件和筆記本電腦
- 更小占地:20" x 23" x 28" (50cm x 60cm x 70cm)
圓二色譜儀-mtk量對映體中毒測定(ee)儀(EKKO CD)新產品技術應用
- 衡量手性小團伙各種血清質等生物工程大團伙
- 研究分析制劑、促使劑、有機溶劑和不同的實驗設計狀況在微小孔板中的組合式混雜。
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圓二色譜儀-高通量對映體過量測量儀產品參數
高通芯片量淘汰 | |
查重機制 | 圓二色性和吸光度 |
預估的模式 | 單光波長 |
光譜圖 | |
孔位板 | 96孔板 |
(384自選) | |
調用事件 | <220分鐘(96孔,單吸光度) |
<1幾小時(96孔,全光譜分析範圍) | |
每孔球體積(Min) | 45 µl(96 孔板格式文件) |
CD規格型號 | |
主波長范圍之內 | 185-880nm |
暖色儀 | 雙光柵 |
可見光波長精密度較 | +/- 0.1nm |
雜散光 | 5ppm(200nm) |
rms環境噪聲 | +/- 0.08 mdeg (200nm, 8 s integration time) |
+/- 0.02 mdeg (500nm, 8 s integration time) | |
CD依據 | +/- 1000 mdeg |
網絡帶寬 | 2nm |
吸光度要求 | 0.01AU |
的光源時間 | > 9000 h typical |
N2 purge | 0.5 l/min |
溫度因素 | 溫度 |
圓二色譜儀-高通量對映體過量測量儀測試數據
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