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紅外輻射能顯微顯像整體(分子運動溫濕度區域顯像)
IRLabs的IREM-IV紅外顯微鏡系統使您能夠更快、更準確、更可靠地進行半導體故障分析和調試。
IREM-IV相機提供超低噪聲擴展波長PEM成像,在工作電壓為400 mV的10 nm設備上具有經驗證的發射成像靈敏度。自行設計和制造的相機,用于低維護操作,,包括6位透鏡轉盤和超過20小時的LN2持續制冷時間。光學擴展端口為外部激光掃描OBIRCH、LADA、TIVA和其他成像模式提供了升級路徑。
3.3NA SIL物鏡是定制設計的透鏡家族中的新產品,經過優化,可在整個視場上提供衍射限制成像。自對準SIL可自動調平,以符合被測設備的局部輪廓。彎曲設計提供了低的接觸力,因此適用于成像安裝器件或裸晶圓。
擴展波長PEM成像通常是熱背景噪聲受限的。IREM-IV提供兩個內部冷卻的濾光輪,因此光譜濾光器或背景限制孔徑適用于任何測量場景。
紅外輻射顯微成像系統(微觀溫度分布成像)指標參數:
手機 鍛煉裝置
● 1016×1016 液氮制冷MCT陣列 ● 25nm辯認率
● 像元尺寸 18um ● 100mm鍛煉條件 (X-Y-Z)
● 400-2500nm 光譜響應范圍 ● 阻尼振蕩隔離霜
● 6個位置自動物鏡轉盤 ● 電動樣品傾斜選項
● 6個位置制冷濾光片/孔徑轉輪
● 大于等于20時間間隔液氮提升時間間隔
整體長寬高
● 顯微鏡 810mm x 876mm x 813mm, 160kg
● 有效控制體系 610mm x 1283mm x 762mm,90kg
物鏡選項卡:
對比圖例