15601689581
首頁
關于我們
產品展示
新聞中心
技術文章
在線留言
聯系我們
人才招聘
當前位置:
主頁
>
產品展示
>
光學部件
>
光譜測量系統
商品索引 Product catalog
光學部件
LEAsys非使用式多普勒彩超波高質量的檢測模式
光仟耳麥話筒
全反射板
非球體鏡
衰減器
濾光片
高倍顯微鏡知識體系
光仟光柵
光電技術網絡延遲線
光隔絕器
渦旋式波片
光緒能調濾波器
光纖線
光柵
光纖線探測器
光譜儀側量程序
OCT操作系統
雙映射在測量裝置
對焦透鏡
多驅動下載自改變長焦
可變氣門正時形光平凸透鏡
激光束整型元件
偏振器材
體布拉格光柵(VBG,VHG)
光學材料動作
二次搬運費抽真空腔
微透鏡陣列/透鏡陣列
F-Theta透鏡與擴束鏡
看到基本
有關系經典文章 Related articles
光譜透過率測量系統
光譜透過率測量系統:AUT GPS-200推出的?套光譜透過率測試系統,通過光譜儀與均勻光源組成透過率測量系統,幫助客戶對光學玻璃、濾光?、膜層、顯示屏(OLED、LCD等)、AR/VR透鏡、油墨、染料、?質等進?光譜透過率的測量。
型號:
廠商性質:POS機供應商
查看詳情
光學視角檢測儀—顯示測量
光學視角檢測儀—顯示測量,ELDIM制造基于傅里葉光學的光學視角檢測儀已經超過25年了。基于*的光學設計,可以控制系統的角孔徑與測量光斑大小相獨立,可以實現非常高的光收集效率,超大掠射角(88°)的測量也具有很高的精度。
型號:
廠商性質:加盟商
查看詳情
Mprobe 20 薄膜測量系統 (單點測量)
Mprobe 20 薄膜測量系統 (單點測量)是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統,只需點擊鼠標薄膜厚度和折射率測量,測量厚度范圍1nm-1mm.
型號:
廠商性質:銷售商商
查看詳情
光腔衰蕩光譜測量系統
光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術,主要用于精確測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬分之一量級!光腔衰蕩光譜測量系統
型號:
廠商性質:代里商
查看詳情
共 4 條記錄,當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第
頁
產品中心
光學部件
新聞中心
技術文章
公司新聞
技術文章
關于我們
公司簡介
人才招聘
聯系方式
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
昊量微信qq在線上客戶
昊量微信號在線上克服
著作權其它 © 2024深圳昊量光電子機械是有限的集團公司
技術支持:
Sitemap.xml